[19p-PA4-1~13] 6.6 Probe Microscopy

[19p-PA4-1] Measurement of the electrostatic force on the system for the Casimir force measurement

〇Naoki Yoshida^1,2, Kazuhisa Sueoka¹ (1.GSIST, Hokkaido Univ., 2.JSPS Research Fellow DC)

Keywords:Casimir effect, Atomic Force Microscopy, Intermolecular forces

ナノスケールの近距離では接触電位差に起因した静電気力の影響が顕著となるため、探針-試料間へバイアス電圧を印加し静電気力を打ち消すといった測定上の工夫が必要とされる。しかしながら、接触電位差が距離依存性を示す場合、従来のFM-AFM を用いた手法では静電気力を正しく評価することができない。本研究では、一般的なカシミール力測定に用いられている球形探針-平面試料間の構成において、静電気力を評価する解析手法を示す。