[19p-PB7-1~16] 12.1 作製・構造制御

[19p-PB7-2] 2D-GIXDによるC10-4T薄膜の配向変化のその場観察

〇阿部 優輝¹、葛原 大軌¹、小金澤 智之²、吉本 則之¹ (1.岩手大院総合、2.高輝度光科学研究セ)

キーワード：X線回折

有機薄膜の配向は、有機デバイスの特性に影響を与える。直線状分子では基板温度が低いほど基板に対して分子軸が平行に配向し、基板温度が高いほど垂直に配向することが知られている。しかし、配向が変化するメカニズムの研究はあまりなされていない。そこでそのメカニズムの解明を目的とし、C10-4Tを用いて真空蒸着による薄膜作製および二次元斜入射X線回折法(2D-GIXD)による配向変化のリアルタイム観察を行った。