[20a-E206-1~11] 3.9 テラヘルツ全般

△ [20a-E206-3] テラヘルツ帯分光分析による定量分析と結晶欠陥評価に関する研究

〇(M1)鎌田 慎也¹、淀川 信一¹、倉林 徹¹ (1.秋田大院理工)

キーワード：テラヘルツ、結晶、定量評価

結晶構造を含む物質に機械的ダメージを与え結晶欠陥を誘起し，テラヘルツ分光分析を行い，結晶度の定量化を図った．粉砕時間をパラメータとしてボールミルを行うことで作製された試料に対してテラヘルツ分光分析を行い吸収ピークを検出する．検出されたテラヘルツスペクトルを平滑化処理，一次微分処理することで微分スペクトルに変換し，吸収ピークに対応したpeak to peakの値から，結晶度を算出した．