2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[20a-E303-1~5] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2019年9月20日(金) 10:30 〜 11:45 E303 (E303)

山口 憲司(量研機構)

10:45 〜 11:00

[20a-E303-2] 真空蒸着でのBaSi2成膜における基板加熱条件の影響

〇(M1)矢澤 大典1、原 康祐1、山中 淳二1、有元 圭介1 (1.山梨大工)

キーワード:シリサイド半導体、真空蒸着