2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[20a-E303-1~5] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2019年9月20日(金) 10:30 〜 11:45 E303 (E303)

山口 憲司(量研機構)

11:15 〜 11:30

[20a-E303-4] Mg2Siバルク単結晶を用いた吸収係数評価とPDの外部量子効率

宮内 壮流1、高橋 史也1、新岡 大介1、鵜殿 治彦1 (1.茨城大工)

キーワード:マグネシウムシリサイド、シリサイド半導体

マグネシウムシリサイド(Mg2Si)は禁制帯幅が室温で約0.6eVの間接遷移型半導体であることから、カットオフ波長約2µm帯の赤外受光素子として利用が期待されている。今回、ダブルビーム方式の分光光度計を用いた透過測定によりMg2Siの吸収係数を広い波長範囲で評価し、その吸収係数をもとにMg2Siフォトダイオードの外部量子効率を評価した。