[20a-E314-1~8] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

△ [20a-E314-2] Quantitative evaluation of electrical characteristics of inclined grain boundaries in multicrystalline silicon by photoluminescence imaging and finite element simulation

〇(M1)Kazuki Mitamura¹, Kentaro Kutsukake², Takuto Kojima³, Noritaka Usami¹ (1.Eng., Nagoya Univ., 2.RIKEN AIP, 3.Inf., Nagoya Univ.)

Keywords:solar cell, grain boundary, photoluminescence imaging

多結晶Si基板中の粒界でのキャリア再結合による変換効率の低下が太陽電池高効率化への障壁の一つである。この粒界の悪影響を減らす手法の開発のために、まずは粒界の電気的特性の正確な測定が重要である。そこで我々は粒界の傾斜角測定、PLイメージング測定および有限要素キャリアシミュレーションを用いて、傾斜角を持つ粒界の電気的特性として再結合速度の決定を試みた。