09:30 〜 09:45 △ [20a-E314-2] 発光イメージング法と有限要素シミュレーションを用いた多結晶シリコン中傾斜粒界の電気的特性の定量評価 〇(M1)三田村 和樹1、沓掛 健太朗2、小島 拓人3、宇佐美 徳隆1 (1.名大院工、2.理研AIP、3.名大院情報)