2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[20a-PB3-1~2] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2019年9月20日(金) 09:30 〜 11:30 PB3 (第二体育館)

09:30 〜 11:30

[20a-PB3-2] シリコンナノクリスタル層/シリコン構造による結晶シリコン表面でのキャリア再結合の防止

鬼塚 裕也1,2、今村 健太郎1、小林 光1 (1.阪大産研、2.学振特別研究員)

キーワード:シリコンナノクリスタル層、量子サイズ効果、化学的転写法

我々は、結晶シリコン表面に数百nm程度の微細なシリコンナノクリスタル(nc-Si)層を形成する化学的転写法を開発した。ナノサイズにまで微細化されたシリコンでは、量子サイズ効果によってバンドギャップが拡大する。そのため、nc-Si層ではバンドギャップの拡大とバンド構造の変化が観測される。本研究では、このnc-Si層/Si構造でのバンド構造の変化によって生じる、結晶シリコン表面でのキャリア再結合の防止効果を見出した。