[20p-C207-1~16] 11.2 薄膜，厚膜，テープ作製プロセスおよび結晶成長

△ [20p-C207-5] 人工ピンを導入したYBa₂Cu₃O_7-y薄膜の透過電子顕微鏡観察に及ぼす試料膜厚および温度の影響

〇吉田 将司¹、石丸 学¹、堀出 朋哉¹、松本 要¹ (1.九州工大工)

キーワード：超伝導

REBa₂Cu₃O_y(REBCO)に人工ピンを導入することで超伝導特性を改善できることが知られている。BaMO₃ (M = Zr, Sn, Hf) (BMO)人工ピンをREBCO薄膜に導入すると歪みが発生し、それが超伝導特性に影響を与える可能性が指摘されている。歪み解析は電子顕微鏡法により行われているが、その多くは極めて薄い試料を用いて室温で行われている。本研究では、YBCO+BMO薄膜をTEMにより観察し、電子線入射方向に対する試料厚さおよび測定温度の歪み解析に及ぼす影響を検討した。