[20p-E202-1~17] 12.1 作製・構造制御

△ [20p-E202-1] 二次元斜入射X線回折法によるC10-4T薄膜の構造解析

〇照井 大貴¹、菊池 護¹、葛原 大軌¹、渡辺 剛²、小金澤 智之²、廣沢 一郎²、吉本 則之¹ (1.岩手大理工、2.高輝度光科学研究セ)

キーワード：X線回折

有機半導体デバイスの有機層の結晶構造は、キャリア輸送特性に影響を与えることが知られている。通常、有機薄膜の結晶構造はバルク単結晶の結晶構造と類似しているという仮定のもとで評価されており、有機薄膜の精密な結晶構造の評価はほとんどされていない。バルク単結晶の結晶構造と薄膜の結晶構造は異なる場合もあり、薄膜状態における結晶構造を明らかにすることは有機デバイス中のキャリア輸送を理解するうえで重要である。本実験では、有機半導体材料としてバルク単結晶の構造が未知のα,ω-Di-decyl-quaterthiophene (C10-4T)を用いて、二次元斜入射X線回折測定(2D-GIXD)によるC10-4T薄膜の結晶構造の推定を試みた。