[20p-E205-1~12] 3.8 光計測技術・機器

[20p-E205-7] マルチパラメータ測定に基づいた光コム屈折率センシングの高度化

〇(D)麻植 凌¹、南川 丈夫^2,3、田上 周路⁴、久世 直也²、安井 武史^2,3 (1.徳島大院、2.徳島大ﾎﾟｽﾄLED ﾌｫﾄﾆｸｽ研究所、3.JST-ERATO美濃島知的光ｼﾝｾｻｲｻﾞ、4.高知工科大)

キーワード：屈折率計測、光コム、ファイバーセンサー

屈折率計測の高精度化のために、本研究では内部共振器型MMIセンサーに伴うモード同期スペクトルの複数測定量同時計測に基づき、屈折率センシングの高精度化を図った。出力として得られる信号を光スペクトルアナライザ、RFスペクトルアナライザ、光パワーメータ等で複数の信号として同時に測定し、それぞれ特有の変化率から外乱物理量を定量することを目的とする。