[20p-E313-1~17] 1.5 計測技術・計測標準

[20p-E313-8] [1. 応用物理学一般　分科内招待講演] フレキシブルデバイス開発に資するフィルムの湾曲ひずみ解析

〇宍戸 厚¹ (1.東工大)

キーワード：ひずみ、フィルム、フレキシブル

フォルダブル・フレキシブルデバイスの開発が急速に進展している一方，デバイスの劣化や疲労が大きな課題となっている。現在の開発プロセスでは，勘と経験に基づく開発の困難さに対しては指摘もなされている。われわれは湾曲現象の定量的な理解がこれらの課題解決に貢献できるものと考え，高分子基板の湾曲に伴う表面ひずみを定量的かつ簡便に解析できる手法ならびに装置の開発を行っている。