[20p-PA4-1~17] 3.8 光計測技術・機器

[20p-PA4-8] シュタルク効果を用いた一臭化ヨウ素のA←X電子遷移スペクトル計測

〇玉木 亮太¹、西宮 信夫¹ (1.東京工芸大院工)

キーワード：分子スペクトル、シュタルク効果、臭化ヨウ素

我々はチタンサファイアレーザを用いて一臭化ヨウ素のA←X遷移を対象に分光計測を行い、分光定数を決定してきたが、低い回転量子数Jのスペクトル計測は難しく、解析対象に含めていなかった。そこで、電界を印加することで生じるシュタルク効果を用いて、回転量子数Jの低い領域のスペクトルを測定し、分光定数を決定する。