[20p-PA6-1~15] 3.14 光制御デバイス・光ファイバー

[20p-PA6-15] 電流変調半導体レーザを読み取りに用いた低反射率FBG-FPIひずみセンサの測定分解能の評価

〇(M1)仲矢 光希¹、ブイ クォックハン¹、福嶋 匡謙¹、マヌエル グテレスソアレス¹、和田 篤¹、田中 哲¹ (1.防衛大学校)

キーワード：光ファイバセンサ

FBG間の間隔の異なる低反射率FBG-FPIを一本のファイバ上に複数設置し、ファイバの反射スペクトルをフーリエ解析する事で、各FBG-FPIのスペクトルシフトを読み出し、ひずみや温度の測定が可能である。反射スペクトルの読み出しを高速化する為に、半導体レーザの注入電流を変調する事による波長掃引の利用を検討している。今回は、この手法によって読みとったセンサの測定分解能の実験的評価を報告する。