[20p-PB2-1~18] 7 ビーム応用（ポスター）

[20p-PB2-6] 走査電子顕微鏡試料室における多重散乱電子軌道のシミュレーション

〇(M2)伊藤 優花¹、森本 健太郎¹、小寺 正敏¹ (1.大工大工)

キーワード：走査電子顕微鏡、フォギング電子