[21a-B01-1~10] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[21a-B01-9] 放射光Ｘ線回折パターンの特徴抽出と空間マッピング(Ⅱ)

〇沓掛 健太朗¹、神岡 武文²、世木 隆³、佐々木 拓生⁴、藤川 誠司⁴、高橋 正光⁴ (1.理研AIP、2.明治大、3.コベルコ科研、4.量研)

キーワード：機械学習、マッピング、X線回折

近年、実験・計測機器の性能向上に伴い、得られる計測データの量は飛躍的に増加しており、得られた大量データを有効活用し、測定対象に関する情報を余すことなく抽出することが求められている。我々は、X線回折パターンの試料表面でのマッピングを対象とし、機械学習によって多数の複雑なパターンから特徴を抽出し、マッピングに応用することを検討している。今回、新たに得られた特徴量成分に対して検討・考察を行ったので報告する。