[21a-E205-1~12] 3.8 光計測技術・機器

△ [21a-E205-11] 高繰り返しYbファイバコムを用いた
無走査3次元形状計測の同時測定範囲拡大の検討

〇(M2)石井 大貴^1,2、加藤 峰士^1,2、徐 博^1,2、Ma Yuxuan^1,3、松嶋 功^1,2、中嶋 善晶^1,2、張 志剛³、美濃島 薫^1,2 (1.電通大、2.JST,ERATO美濃島知的光シンセサイザ、3.北京大)

キーワード：光コム

我々のグループではチャープ光パルスによる超高速時空間色変換手法を用いた高精度・広ダイナミックレンジな無走査3次元形状計測を実現した。しかし、光源のパルス間隔が数mオーダーで、デットゾーンが広く存在し、同時測定範囲に制限があった。そこで、本研究では、高繰り返しコムを光源に適用することでパルス間隔を狭くし、さらにプローブ光を大きくチャープさせることでデットゾーンを削減し、測定範囲を拡大する検討を行う。