[21a-E205-1~12] 3.8 光計測技術・機器

△ [21a-E205-8] 複素テンソル評価に向けたデュアルコム固体分光法の高度化

〇足立 拓斗^1,2、浅原 彰文^1,2、小田切 雄介^1,2,3、白川 正之⁴、石橋 爾子^2,3、波多野 智^2,3、徳永 英司⁴、美濃島 薫^1,2 (1.電通大、2.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ、3.ネオアーク株式会社、4.東京理科大学)

キーワード：光コム、デュアルコム分光法

我々は精密分光や応用計測などにおいて有用な手法であるデュアルコム分光法を固体物性評価に適用し、その有用性を示してきた。本研究では固体試料の光学特性測定系に偏光情報の詳細測定を導入し、旋光性や円二色性を示す材料の複素テンソルの評価が可能となる分光法の実現を目指した。本手法を用いることにより複素テンソルに関して、広帯域なスペクトル情報を一度に、かつ高速に測定可能であることが期待できる。