11:15 〜 11:30
[21a-E205-9] 物性計測に向けた電気光学変調器を用いた偏光デュアルコム分光法の開発
キーワード:光周波数コム、偏光
本研究では、電気光学変調器を用いた偏光デュアルコム分光法を開発した。
原理検証として、試料として1/4波長板を用い、試料透過後の偏光状態が正しく測れることを確かめた。
さらに、試料を透過する時としない時の光の偏光状態を比較し、試料の速軸の向きを決定し、
速軸と遅軸に沿って試料を透過した光の位相変化を求めた。
そして、その位相差が、1/4波長板に対応する90°であることを確かめた。
原理検証として、試料として1/4波長板を用い、試料透過後の偏光状態が正しく測れることを確かめた。
さらに、試料を透過する時としない時の光の偏光状態を比較し、試料の速軸の向きを決定し、
速軸と遅軸に沿って試料を透過した光の位相変化を求めた。
そして、その位相差が、1/4波長板に対応する90°であることを確かめた。