09:30 〜 11:30 [11a-PB3-5] Bi-Te系熱電変換デバイスの半導体接合におけるNi拡散バリアの信頼性 〇恵久春 佑寿夫1、菅原 徹1、菅沼 克昭1、岡嶋 道生2、南部 修太郎2 (1.大阪大学産研、2.Eサーモジェンテック)