16:00 〜 18:00 [10p-PA8-13] c面サファイア基板上Ni薄膜の熱処理結晶化のX線回折測定による評価 〇成塚 重弥1、中島 諒人1、山田 純平1、上田 悠貴1、丸山 隆浩1 (1.名城大理工)