The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

Exhibitors

11 results  (1 - 11)

[A-13] Nanometrics Japan

Nanometrics Japan ■エレクトロケミカルCVプロファイラー
■ホール効果測定装置
■フォトルミネッセンスマッピングシステム
■FT-IRシステム ■分光反射率式膜厚測定システム

[T-12] Nanotechnology Platform

■本事業は、大学・研究機関の保有する最先端のナノテクノロジー研究設備・技術を広く公開し、どなたでも研究・開発にご活用いただけるサービスです。利用事例や支援の仕組についてご紹介させていただきます。

[Z-7] NEOARK CORPORATION

NEOARK CORPORATION ■小型磁区観察顕微鏡 Neomagnesia Lite
■マスクレス露光装置 PALET
■デュアルコム ファラデー効果測定装置 (参考出品)
■サニャック干渉計振動観察装置