11:15 AM - 11:30 AM
[10a-M135-9] VUV waveform characterization by dynamical change in reflectivity in laser ablation
Keywords:VUV wafeform characterization, ablation, Silicon
極短パルスレーザーをシリコンに集光することによってレーザープラズマを生成し、波長132 nm の真空紫外プローブパルスの時間分解反射スペクトルを測定した。FROG解析により真空紫外パルスのパルス幅を 16 fs と決定することができた。