[10a-S224-1~8] 7.5 Ion beams

[10a-S224-7] Development of the Electrospray Ion Source for Organic SIMS

〇(M2)Shuhei Yamada¹, Toshio Seki¹, Aoki Takaaki², Matsuo Jiro¹ (1.Grad. Sch of Eng.. Kyoto Univ, 2.ACCMS, Kyoto Univ.)

Keywords:Ion Beam, SIMS, Electrospray

近年、高分子を質量分析する技術の需要が高まっており、二次イオン質量分析法(SIMS)も高分子の分析手法の一つである。一次イオンにアルゴンクラスターを用いることにより、1kDa以上の高分子の分析が可能となったが、さらに大きな質量領域での検出感度向上が課題である。そこで今回、エレクトロスプレーにより生成したグリセロールのエレクトロスプレーをSIMSに用いるためのイオン源を開発した。