PDF ダウンロード スケジュール 14 いいね! 1 コメント (0) 09:15 〜 09:30 [10a-W641-2] NiO/ZnO ヘテロ界面におけるポストプロセスの影響と劣化メカニズムの検討 〇加藤 匠秀1、竹内 航平1、王 澤樺1、田沼 涼1、杉山 睦1,2 (1.東理大 理工、2.東理大 総研) キーワード:酸化ニッケル、界面、ワイドバンドギャップ