The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[10a-W833-1~9] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Sun. Mar 10, 2019 9:00 AM - 11:30 AM W833 (W833)

Tsuyoshi Honma(Nagaoka Univ. of Tech.)

10:30 AM - 10:45 AM

[10a-W833-6] Measurements of exciton binding energy and stimulated emission gain spectra of Mg-doped ZnO micrometer-thick films

Shusuke Fujii1, Yutaka Adachi2, Takashi Uchino1 (1.Kobe Univ., 2.NIMS)

Keywords:zinc oxide, stimulated emission, bandgap energy

近年,我々はMg添加ZnO薄膜(膜厚μm以上)の室温励起子誘導放出過程が,非添加ZnOマイクロ粒子や薄膜の励起子-電子散乱とは異なり,励起子-励起子散乱に由来することを報告した。この違いはMg添加による励起子結合エネルギー(Eb)の増加により生じると考えられる。本研究では光学バンドギャップを求めることでより精度よくEbを決定することを試みた。さらに,室温での光学利得を求めるためVariable Stripe Length法によりゲインスペクトルを測定した。