[10p-W611-1~14] 16.3 シリコン系太陽電池

[10p-W611-9] 太陽電地モジュールにおける電圧誘起劣化箇所の一検討― フィンガー電極近傍での局所的劣化の可能性 ―

〇吉田 弘樹¹、大橋 史隆¹、亀山 展和¹、傍島 靖¹、原 由紀子²、増田 淳²、野々村 修一¹ (1.岐大工、2.産総研)

キーワード：電圧誘起劣化、シリコン太陽電地モジュール

電圧誘起劣化(Potential Induced Degradation: PID)は，高温多湿な環境で太陽電地モジュールとフ レーム等の間に高電圧が印加されて発生することが知られている。高電圧印加時，フィンガー電 極がリーク電流の一経路となり得るなら，封止剤や反射防止膜表面を流れるリーク電流に加えてNa イオンなども集まり，フィンガー電極近傍が局所的に劣化される可能性がある。そこで，太陽 電地に対して，受光面からフォトンを注入する PL (Photoluminescence)法と，電極からキャリヤを注入する EL (Electroluminescence)法の測定結果を比較することで，フィンガー電極近傍における劣化について検討した。