The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

[10p-W611-1~14] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

Sun. Mar 10, 2019 1:30 PM - 5:30 PM W611 (W611)

Yasushi Sobajima(Gifu Univ.), Fumitaka Ohashi(Gifu Univ.)

3:30 PM - 3:45 PM

[10p-W611-8] Study on PID suppression effect using high-resistance glass layer by analysis of electric field and current distribution inside photovoltaic module

Yasushi Tachibana1, Takeshi Toyoda1, Fumitaka Ohashi2, Hiroki Yoshida2, Yasushi Sobajima2, Nobukazu Kameyama2, Atsushi Masuda3, Shuichi Nonomura2 (1.IRII, 2.Gifu Univ., 3.AIST)

Keywords:Potential Induced Degradation(PID), Analysis of electric field, High-resistance glass layer

PIDの抑制を目的に、モジュールに高抵抗ガラス層を形成して、実験及び解析で評価を行っている。高抵抗ガラス層による電気的な効果を検証するために、モジュール内部の電界および電流分布の解析を行った。解析の結果より、高抵抗ガラス層に強い電界が集中することで、他の太陽電池部材に印加される電界が弱まることが分かった。これは、モジュールへの高抵抗ガラス層の挿入が、PID抑制に対して電気的に効果があることを示す。