[11a-S622-5~8] 2.1 放射線物理一般・検出器基礎

[11a-S622-8] ポリカプロラクタムとポリヘキサメチレンアジパミド中カルボニル基に見られるイオン照射下の放射線感受性の相違

〇(M2)酒井 盛寿¹、千葉 昌寛¹、濵野 拳¹、楠本 多聞²、小平 聡²、金崎 真聡¹、小田 啓二¹、山内 知也¹ (1.神大院海事、2.量研機構)

キーワード：固体飛跡検出器、ナイロン４,６、ナイロン６,６

高分子系固体飛跡検出器中イオントラックの構造分析の手法としては主に赤外分光分析が用いられている。その手法を用いてアミド基を含む高分子であるポリテトラメチレンアジパミド（ナイロン４,６）とポリヘキサメチレンアジパミド（ナイロン６,６）に5.1 MeV/uのCイオンを照射した際の吸光度変化と化学的損傷パラメータを求めた。