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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[11p-W834-1~18] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2019年3月11日(月) 13:15 〜 18:30 W834 (W834)

末益崇(筑波大)、立岡浩一(静大)、山口憲司(量研機構)、原康祐(山梨大)

16:45 〜 17:00

[11p-W834-13] Si基板上に形成した擬ギャップε-CoSi薄膜の熱電性能評価

〇雛川貴弘¹、坂根駿也¹、石部貴史¹、藤田武志^2,3、中村芳明^1,2 (1.阪大院基礎工、2.CREST-JST、3.高知工科大)

キーワード：擬ギャップ