[11p-W933-1~11] Symposium on Crystal Science with Synchrotron Radiation

[11p-W933-5] Real-time observation of bismuth thin-film growth on silicon and its structure at the interface

〇Hiroo Tajiri¹ (1.JASRI)

Keywords:X-ray diffraction, surface, interface

基板結晶上の結晶成長の様子や表面・界面構造を非破壊で評価する方法として、透過X線回折による方法を紹介する。