The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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1 Interdisciplinary Physics and Related Areas of Science and Technology » 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

[12a-PA1-1~12] 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

Tue. Mar 12, 2019 9:30 AM - 11:30 AM PA1 (PA)

9:30 AM - 11:30 AM

[12a-PA1-8] High-precision phase calibration of microwave CT system with multi-static technique.

〇(BC)Akiho Ueno1, Soichiro Yamaguchi1, Haruka Nakayama1 (1.Kansai Univ.)

Keywords:microwave

多数の送受信アンテナを固定配置し, 広帯域な周波数掃引するマイクロ波CT装置に適した高精度の位相較正法を考案した。回折限界を超える直径λ/8程度の小さい誘電体を撮像するには, 異なる送受信ch経路における位相較正の精度はλ/100を要する。周波数変調のステップ幅が非常に小さい場合, 伝送線路に沿う誘電材の誘電率を一定とみなすことで, 各送受信ch経路の電気長を精密測定できる。