2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[12p-M111-1~13] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2019年3月12日(火) 13:30 〜 17:00 M111 (H111)

小野 敏昭(SUMCO)、仮屋崎 弘昭(GWJ)

14:45 〜 15:00

[12p-M111-6] 超高温RTPによるSiウェーハの酸素析出制御

須藤 治生1,2、前田 進1、中村 浩三3、末岡 浩治4 (1.グローバルウェーハズ・ジャパン、2.岡山県大院情報系工、3.岡山県大地域共同研究機構、4.岡山県大情報工)

キーワード:シリコン、急速昇降温熱処理、酸素析出

Siウェーハ中の酸素析出について、酸化性雰囲気でのRTPの冷却条件と酸素析出挙動との関係を調べ、酸素析出を適正な状態とする効果的な制御方法について報告する。