The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[9a-M112-1~12] 6.6 Probe Microscopy

Sat. Mar 9, 2019 9:00 AM - 12:00 PM M112 (H112)

Satoshi Katano(Tohoku Univ.)

10:30 AM - 10:45 AM

[9a-M112-7] Orientation dependence Young's modulus of Au nanowires estimated by TEM- FM method

Yuki Kobori1, Keisuke Ishizuka1, Haruka Mitera2, Masahiko Tomitori1, Toyoko Arai2, Yoshifumi Oshima1 (1.JAIST, 2.Kanazawa Univ.)

Keywords:Young's modulus, Nanowire, Crystal orientation

ナノ材料の機械的性質は異方性を示すことが理論的に示唆されている。しかし、実験的な報告例は少ない。本研究では材料周波数変調原子間力顕微鏡(FM-AFM)の測定原理を応用し、小さな振幅でも高い感度で力の勾配(すなわち等価バネ定数)を得られる長辺水晶振動子を組み込んだTEMホルダーを用いて、振動子と固定電極に間に架橋されたAuナノワイヤの構造を観察するとともに等価ばね定数を測定し、各結晶方位のヤング率を求めた。