The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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15 Crystal Engineering » 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

[9a-PB3-1~18] 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

Sat. Mar 9, 2019 9:30 AM - 11:30 AM PB3 (PB)

9:30 AM - 11:30 AM

[9a-PB3-16] High Temperature Switching Test of SiC-MOSFET Half-Bridge Power Modules installed in In-Wheel Motor

Satoshi Tanimoto1,3, Mari Yamashita1, Nobuo Kojima1, Tastuhiro Suzuki1, Sawa Araki1, Shinji Sato2, Kan Akatsu3 (1.PEAL, NISSAN ARC, 2.ADPERC, AIST, 3.Shibaura Inst. Tech.)

Keywords:power module, high temperature, switching test

この度、NEDO-SIP機電一体EVインホイールモータ(IWM)内部に組み込むトランスファーモールド超小型SiC-MOSFETハーフブリッジパワーモジュール(HBPM)試作品の高温スイッチング(SW)試験を実施したところ、最大目標ケース温度TC = 200℃まで極めて安定にturn-on, turn-offできること確認したので報告する。試験はダブルパルス試験であって、典型的なSW条件は600 V, 105~115Aであった。使用状況では起りえないより過酷な条件: TC = 250℃, 600 V, 150 AでのSWも達成した。