The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.4 Thin films and New materials

[9a-W323-1~12] 6.4 Thin films and New materials

Sat. Mar 9, 2019 9:00 AM - 12:15 PM W323 (W323)

Satoru Kaneko(Kanagawa Industrial Tech. Center)

11:30 AM - 11:45 AM

[9a-W323-10] Relationship of Transverse Sensitivity and Neel Temperature on Cr Based Strain Sensor Thin Films

Eiji Niwa1 (1.DENJIKEN)

Keywords:Transverse sensitivity, Neel Temperature, Strain sensor

高感度ひずみセンサに有望なCr基薄膜の横感度はネール温度以上では小さな値と推測される。その場合その高温域では、片持ち梁型起歪構造体において、正ひずみ印加方向と垂直に配置した薄膜素子のゲージ率はほぼポアソン比の形状効果のみによる負の小さな値をとることとなり、ネール温度近傍で垂直配置素子のゲージ率がゼロになると予測される。その検証の結果、Cr-Fe薄膜等の垂直配置素子で室温でのゲージ率ゼロを確認した。