The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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6 Thin Films and Surfaces » 6.4 Thin films and New materials

[9p-PA1-1~28] 6.4 Thin films and New materials

Sat. Mar 9, 2019 1:30 PM - 3:30 PM PA1 (PA)

1:30 PM - 3:30 PM

[9p-PA1-8] Absolute quantitative analysis of oxygen thin film sample by 16O(α,α)16O using the electrostatic accelerator

〇(M1)Daiki Kumamoto1, Yusei Mizuno1, Akio Shida1, Tsuneo Suzuki1 (1.Nagaoka Univ. Tech.)

Keywords:Electrostatic Accelerator, Rutherford Backscattering Spectrometry, Oxygen Quantification

薄膜技術では酸素含有試料の高精度な組成分析をする必要があるが、X線分析では酸素とクロムなどのエネルギーの重なりが生じて、軽元素の定量性が減少するため、特性X線を利用しないRBS法と共鳴核反応を組み合わせた、酸素の高精度絶対定量分析法を適用した。本報告では上記手法を適用して酸素含有量を求めるための換算計数ROを様々な既知酸素含有試料で測定し、通常のRBS法よりも1桁以上酸素の検出感度が向上したので、報告する。