2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

21 合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」 » 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

[9p-S011-1~13] 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

2019年3月9日(土) 13:45 〜 17:15 S011 (南講義棟)

浦岡 行治(奈良先端大)、大島 孝仁(佐賀大)

16:45 〜 17:00

[9p-S011-12] HVPE (001) β-Ga2O3ショットキーバリアダイオードのエミッションスポットと逆方向リーク電流の関係

嘉数 誠1、片桐 英鉄1、佐々木 公平2、川崎 克己3、平林 潤3、山腰 茂伸4、倉又 朗人2 (1.佐賀大院工、2.ノベルクリスタルテクノロジー、3.TDK、4.タムラ製作所)

キーワード:酸化ガリウム、パワーデバイス、欠陥

酸化ガリウムSBDのエミッションスポット密度と逆方向リーク電流値との間に明確な相関を確認したので報告する