Hanfang Hao

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発表者・著者、共著者

2020年9月10日(木) 13:30 〜 17:45 Z15

シンポジウム(口頭講演)
| シンポジウム
| 先端イオン源顕微鏡技術：ナノ材料・デバイス、生命科学への展開

[10p-Z15-1~10] 先端イオン源顕微鏡技術：ナノ材料・デバイス、生命科学への展開

15:00 〜 15:30

▲ [10p-Z15-5] Application of Neon Ion Beam for Processing III-V Semiconductors and Atom Probe Sample Preparation of Ga Sensitive Materials

Deying Xia²、〇Hanfang Hao¹、Vignesh Viswanathan¹、John Notte² (1.Carl Zeiss Pte Ltd、2.Carl Zeiss SMT Inc.)