一般セッション(口頭講演)
[8a-Z22-1~8] 1.5 計測技術・計測標準
09:30 〜 09:45
〇河村 泰樹1、 中野 享1 (1.産総研)
09:45 〜 10:00
〇山内 常生1、 丹羽 章二1 (1.株式会社BSR)
10:00 〜 10:15
〇石渡 尚也1、 丹羽 民夫1、 阿部 恒1 (1.産総研)
10:15 〜 10:30
〇石月 尚宏1、 青田 崇志1、 當麻 浩司1、 荒川 貴博1、 三林 浩二1 (1.医科歯科大)
10:30 〜 10:45
〇稲毛 崇之1、 戸本 圭介1、 横田 くみ1、 當麻 浩司1、 荒川 貴博1、 三林 浩二1 (1.医科歯科大)
10:45 〜 11:00
〇(M1)Chuanlai ZANG1、 Hitoshi Tabata1 (1.The Univ. of Tokyo)
11:00 〜 11:15
〇(PC)Volker Thomas Sonnenschein1、 Taku Matsushita1、 Yoshiyuki Tsuji1、 Wei Guo2、 Hiroshi Hayashida3、 Katsuya Hirota1、 Hiroi Kosuke5、 Takumi Maruyama1、 Mayu Hishida1、 Hideki Tomita1、 Daisuke Ito4、 Masaaki Kitaguchi1、 Yoshiaki Kiyanagi1、 Suzuki Sou1、 Yasushi Saito4、 Hirohiko Shimizu1、 Takenao Shinohara5、 Nobuo Wada1 (1.Nagoya University、2.Florida State Univ.、3.CROSS、4.KURNS Kyoto Univ.、5.J-PARC Center (JAEA))
11:15 〜 11:30
〇寺崎 正1、 安藤 直継2、 兵頭 啓一郎2 (1.産総研、2.ユアサシステム機器)