11:15 〜 11:30 [8a-Z22-8] フレキシブルエレクトロニクスフィルム疲労過程におけるマイクロクラック生成の応力発光可視検出 〇寺崎 正1、安藤 直継2、兵頭 啓一郎2 (1.産総研、2.ユアサシステム機器)