The 81st JSAP Autumn Meeting, 2020

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[10p-Z06-1~19] 6.6 Probe Microscopy

Thu. Sep 10, 2020 12:30 PM - 5:30 PM Z06

Yoichi Otsuka(Osaka Univ.), Keisuke Miyazawa(Kanazawa Univ.)

5:00 PM - 5:15 PM

[10p-Z06-18] NC-AFM force curve analysis by Monte carlo method

Zhuo Diao1, Daiki Katsube2, Hayato Yamashita1, Abe Masayuki1 (1.Osaka Univ., 2.Nagaoka Univ. Tech.)

Keywords:bayes inference, Atomic force microscope, Force Curve

非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM)が測定するフォースカーブから原子分解能の情報であるFSRを抽出するとき, 我々はFSRにおける成分に値の不確定性があると判明した. 本発表ではその不確定性を評価するために, 考案したモンテカルロ法による解析について説明する.