〇(M2)DANGIL KIM¹、 Kanta Asakawa^1,2、 Shotaro Yaguchi¹、 Mikito Tsujii¹、 Keisuke Kaneshima¹、 Katsumasa Yoshioka¹、 Yusuke Arashida³、 Shoji Yoshida³、 Hidemi Shigekawa³、 Masashi Kuwahara⁴、 Ikufumi Katayama¹、 Jun Takeda¹ (1.Yokohama Natl. Univ.、2.Tokyo Univ. of Agriculture and Technology、3.Tsukuba Univ.、4.AIST)

11:15 〜 11:30

▲ [11a-Z06-12] Development of low-temperature THz scattering-type scanning near-field microscope

〇KuanTing Lin¹、 Qianchun Weng¹、 Sunmi Kim¹、 Susumu Komiyama²、 Yusuke Kajihara¹ (1.IIS, Univ. Tokyo、2.Univ. Tokyo)

セッション一覧

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[9a-Z06-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

△ [9a-Z06-2] ケルビンプローブフォース顕微鏡によるマイクロピエゾ抵抗センサの変位・表面電位評価

△ [9a-Z06-3] ナノスケール接触の数理的定義にもとづくナノスケール摩擦の異方性の解釈

△ [9a-Z06-4] 探針同期時間分解静電気力顕微鏡による導電性高分子内の電荷追跡

△ [9a-Z06-5] 非接触原子間力顕微鏡によるFe3O4薄膜表面の電荷秩序整列の観察

△ [9a-Z06-6] Au(111)表面のSTS測定によるCr探針の結晶方位の評価

△ [9a-Z06-7] Cr被覆W探針スピンプローブの作製及び評価

△ [9a-Z06-8] クラスター分析による表面の異なる化学種の自動識別

△ [9a-Z06-9] 単分子接合の破断直前に現れる電子状態の解明

△ [9a-Z06-10] 原子間力顕微鏡によるAg(111)上シリセンのT相の構造解析

▼ [9a-Z06-11] Dissipative interaction via capacitive coupling through mica nanosheets examined by non-contact atomic force microscopy

[10p-Z06-1~19] 6.6 プローブ顕微鏡

▲ [10p-Z06-9] Atomic scale mechanics measured by TEM holder combined with a frequency-modulation force sensor

▲ [10p-Z06-17] Fabrication of a NV center diamond probe by using focused ion beam for scanning magnetic field imaging

[11a-Z06-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

▲ [11a-Z06-10] In-situ scanning tunneling microscopy observation of water adsorption on rutile TiO2(110)-(1×2) surface

▲ [11a-Z06-11] Nanoscale phase transition of Ge2Sb2Te5 induced by locally enhanced laser fields at a tunnel junction

▲ [11a-Z06-12] Development of low-temperature THz scattering-type scanning near-field microscope

認証

△ [9a-Z06-5] 非接触原子間力顕微鏡によるFe₃O₄薄膜表面の電荷秩序整列の観察

▲ [11a-Z06-10] In-situ scanning tunneling microscopy observation of water adsorption on rutile TiO₂(110)-(1×2) surface

▲ [11a-Z06-11] Nanoscale phase transition of Ge₂Sb₂Te₅ induced by locally enhanced laser fields at a tunnel junction