[10p-Z06-1~19] 6.6 Probe Microscopy

[10p-Z06-8] STM observation of APT sample by multi tips of Pt/W(111) nano-pyramids II

Takumi Umemura¹, Junki Kubo¹, 〇Shu Kurokawa^1,2 (1.Kyoto Univ., 2.ESISM Kyoto Univ.)

Keywords:Scanning Tunneling Microscopy, Atom Probe Tomography

走査トンネル顕微鏡（STM)の試料作製のための新しい手法として電界蒸発の利用を提案する．電界蒸発を起こすためには一般に先端形状のとがった試料を使用する必要がある．このような試料表面をSTM観察するための手法を提案する．