The 81st JSAP Autumn Meeting, 2020

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Oral presentation

8 Plasma Electronics » 8.2 Plasma deposition of thin film, plasma etching and surface treatment

[11p-Z03-3~12] 8.2 Plasma deposition of thin film, plasma etching and surface treatment

Fri. Sep 11, 2020 1:30 PM - 4:15 PM Z03

Kenji Ishikawa(Nagoya Univ.), Makoto Satake(Hitachi)

4:00 PM - 4:15 PM

[11p-Z03-12] Investigation of Radical Radiation Intensity Distribution and Photoresist Removal Rate Distribution in Microwave Excited Water Vapor Plasma

Takeshi Aizawa1, Sakurai Tasuku1, Ishijima Tatsuo1, Tanaka Yasunori1, Yusuke Nakano1 (1.Kanazawa Univ.)

Keywords:ashing, microwave, optical emission spectroscopy

我々は,新規フォトレジスト除去の手法としてマイクロ波励起の水プラズマアッシング法の研究開発を進めている。本手法では,高速なレジスト除去およびイオン注入されたレジスト除去が可能である。しかし,本手法にはレジスト除去速度の面内均一性に課題がある。本報では,マイクロ波の変調条件を変更して,2次元発光分光計測によるラジカル発光強度の空間分布について検討し,アッシング均一性との関係を調査した。