[8p-Z02-1~8] 窒化物半導体特異構造の科学　～実験と理論の協奏的アプローチ：物性解明と制御～

[8p-Z02-3] 微分位相コントラストSTEM法による材料局所電磁場観察

〇柴田 直哉^1,2 (1.東大総研、2.JFCCナノ構造研)

キーワード：電子顕微鏡, 電磁場, 界面

本講演では、DPC STEM法による材料内部の電磁場直接観察について、その原理からデバイス解析応用まで、最新の研究事例を交えて報告する。また、現在開発中の原子分解能磁場フリー電子顕微鏡の特徴と可能性についても紹介する。