2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[8p-Z05-1~20] 6.2 カーボン系薄膜

2020年9月8日(火) 13:00 〜 19:00 Z05

藤原 正澄(大阪市立大)、大曲 新矢(産総研)、山崎 聡(金沢大)

16:30 〜 16:45

[8p-Z05-13] ダイヤモンド表面近傍NV中心の電荷安定性とスピンコヒーレンス特性の向上

西川 哲理1、渡辺 顕1、加藤 宙光2、藤原 正規1、牧野 俊晴2、山崎 聡2、David Ernst Herbschleb1、水落 憲和1 (1.京大化研、2.産総研)

キーワード:ダイヤモンド, 磁気センサ, NV中心

本研究は、リンドープn型ダイヤモンド中の単一NVを用いた磁気センサの感度の向上を目的とし、n型ダイヤモンド表面近傍に存在する単一NV中心について、Hahn echo法に依るコヒーレンス時間測定とシングルショット法による電荷安定性を行った。また、リンをドープしていないダイヤモンド中に上記NV中心と同条件で作製した単一NV中心との比較を行った。本発表では、それぞれの試料の作製法及び実験結果について報告する。