[8p-Z09-1~18] 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

[8p-Z09-17] 基板上に直接横たわったSi細線のゼーベック係数の測定(2)

〇片山 和明¹、富田 基裕¹、平尾 修平¹、田邉 咲華¹、松川 貴²、松木 武雄^1,2、猪川 洋³、渡邉 孝信¹ (1.早大理工、2.産総研、3.静岡大学)

キーワード：ゼーベック係数, シリコン