1:45 PM - 2:00 PM
△ [8p-Z25-3] Sputtering Yields of Ag and Au Nanoparticles bombarded with 3 to 100 keV Ar Ions
Keywords:ion beam, nanoparticle, sputtering
イオンビームを用いて深さ分析を行う二次イオン質量分析などで、ナノ構造体を対象とする際には、そのスパッタリング収率が不可欠な物理量となる。本研究では、基板上のAgおよびAuナノ粒子にAr+を照射し、そのスパッタリング収率を求めた。3–100 keV Ar+照射の結果、いずれのエネルギーでもナノ粒子におけるスパッタリング収率が最大1.5–2.0倍に増大した。講演では、スパッタリング収率の粒径およびエネルギー依存性について議論する。