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[8p-Z25-9] エネルギー依存SIMSスペクトルのフラグメントイオンのクラスタリング
キーワード:二次イオン質量分析, 多変量解析, クラスターイオンビーム
これまでクラスターSIMSにおいて一次イオンビーム照射による有機分子の解離パターンが一次イオンの1原子当たりエネルギー(eV/n)に依存して変化することを見出してきた.本研究では,一次イオンビームのeV/nに依存して変化するクラスターSIMSスペクトルを多変量解析の手法を用いて解析し,スペクトル中のフラグメントイオンピークを分類することを試みた.